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为什么要选择FRU测厚仪(膜厚仪)?

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为什么要选择FRU测厚仪(膜厚仪)?

发布日期:2020-07-03 作者:admin 点击:

目前涂层测厚仪(膜厚仪)所采用的原理基本是以下几种:
 
1. 放射性测厚法:利用射线穿透检测。此类仪器价格非常昂贵(一般在10万人民币以上)。适用于一些特殊环境,各项技术参数要求相对比较高,使用范围相对狭窄。
 
2. 超声波测厚法:利用超声波频率变化检测。适用于多层涂层厚度的测量。一般价格昂贵,测量精度也不高,国内暂时还没有投入生产。
 
3. 微波激光测厚法:正在研发中。
 
4. 电解测厚法:需要破坏涂层,属于有损检测,基本上已弃用。
 
5. 涡流测厚法:利用涡流原理检测。适用于导电金属上的非导电层厚度测量。也就是我们一般所说的铝基膜厚仪。
 
6. 磁性测厚法:适用导磁是否会的非导磁层厚度测量。也就是我们一般所说的铁基膜厚仪,这种方法测量结果精度高。
 
目前国内的涂层测厚仪基本是采用涡流测厚法或磁性测厚法或二者相结合的原理。

 
 
当检测各种非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。例如:铝型材、铝板、铝管、铝塑板、铝工件表面的阳极氧化层或涂层时,我们用铝基测厚仪。
 
高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。
 
当所测材料为铁基时,采用电磁感应法测量涂层的厚度。将处于工作状态下的测量探头平稳放置于被测件表面上,涂层测厚仪的探头和被测件连接,形成一个闭合的磁回路。随着探头的与被测铁磁性材料之间距离的改变,该磁性回路将产生不同程度的改变,从而引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理就可以精确地测量探头与铁磁性材料之间的距离,该距离即为所测的涂层厚度。
 
分体机不仅适合常规平整面,而且适合内径大的曲面,有凹槽,夹角,缝隙的产品上涂层厚度的测量,相对来说它比一体基更稳定。
 
涂层测厚仪全部采用德国进口的小口径高精密探头,在使用的过程中稳定性更高。看我们的客户在实际测量过程中做的数据对比图:

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