如何减少您的镀层厚度XRF测量错误

XRF分析是一种成熟、值得信任的可靠技能，可用于丈量从珠宝到工程设备等各种部件的镀层厚度。作为质量操控流程的一个关键部分，您很可能会依托XRF的测验成果来操控流程，并在发货前测验成品部件的质量。

但是，尽管XRF是一种可靠的技能，但它也很容易得到错误成果，尤其是对于镀层厚度丈量。在这篇文章中，我们将讨论您的XRF丈量出错的原因，以及您可以采取的预防措施。

XRF错误的源头

一般来说，丈量犯错有两种原因：要么您的仪器有问题，要么您的丈量方法有问题。咱们先来看看仪器方面的问题。

如何保证您的XRF工作正常。

XRF分析仪是一种精密仪器，在其使用期内–从您完结惯例查看到制造商年检都需求小心使用。这是您保证XRF提供正确成果所需的必要工作。

*常规仪器检测 

常规仪器检测查看由操作员按照制造商主张的时刻距离进行。此类查看会监测仪器的内部性能，如X射线探测器强度、探测器分辨率和探测器增益。假如发现纤细改变，仪器会主动进行调整。而假如改变超出预期，您的分析仪会发出警报，此刻需求联络制造商。遵守制造商主张的查看距离是很重要的——假如时刻距离太长，就会错失发现纤细改变的机遇，假如时刻距离太短，分析仪可能会过度纠正，因此也可能带来错误。

*校准 

进行常规仪器查看之后，在使用XRF分析仪进行质量操控之前，您需求验证您的校准。您可以使用已知的出产零件或参阅样（也称为规范样）。重要的是，此类参阅样须从经认证的供应商处购买，最好定期由ISO17025认可实验室对其进行重新认证。

*仪器认证 

作为仪器年检的一部分，主张您让原始制造商对您的XRF分析仪进行重新认证，保证灵敏部件正常工作。这一般由专业工程师进行，其将进行全面诊断并提出相应主张。 

可能导致误差的分析错误

即便运用设置完美的仪器，在进行丈量时，还会有其他因素可能导致过错。

*未履行样品对焦 

保证样品被正确对焦是丈量过程中的一个关键步骤。保证X射线管、样品和探测器彼此之间的间隔固定，这关于准确的镀层厚度结果至关重要。假如X射线管、样品和探测器彼此之间的间隔太大，则镀层会变薄，反之亦然。假如您要丈量多层镀层，过错就会叠加。

*基底改变

基底内的其他元素会干扰镀层间的X射线相互作用。这意味着产生的X射线信号与正确的镀层厚度无法关联。好在目前这种影响已被充分认识理解，所以假如您运用与您的实际基底十分类似的资料进行校准，则可补偿这种影响。本质上，您的基底资料需与您的校准参阅样十分类似。

*超出校准范围的测量

您仪器的校准是针对有限规模内的镀层厚度和成分进行优化。在较大规模内，镀层厚度和X射线强度之间的关系不是线性的，因而您不能保证在仪器校准规模之外也获得牢靠的结果。您的XRF制造商能够告诉您校准的测试极限，而且您也能够在软件上设置警告，假如丈量值超出“安全”规模，就会提示操作员，如此您能够保证一直在校准极限规模内进行丈量。