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镀层测厚仪CMI900

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镀层测厚仪CMI900

  • 所属分类:镀层测厚仪FT110

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  • 发布日期:2019/09/23
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详细介绍

CMI900   X射线荧光镀层测厚仪

 

仪器介绍

CMI900荧光X射线镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,快速无损测量,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。


适用范围

用于电子元器件,半导体,PCB,FPC,LED支架,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器,端子,卫浴洁具,首饰饰品……多个行业表面镀层厚度的测量;

测量镀层,金属涂层,薄膜的厚度或液体(镀液的成分分析)组成。


主要特点

测量范围宽,可检测元素范围:Ti22–U92;

可同时测定5层/15种元素/共存元素较正;

精度高、稳定性好;

强大的数据统计、处理功能;

NIST认证的标准片;

全球服务及支持。


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