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如何为产品选择适用的镀层测厚仪

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如何为产品选择适用的镀层测厚仪

发布日期:2020-10-23 作者:kf 点击:

商场对通讯设备、电子可穿戴设备、物联网的需求,加之汽车和其他行业对电子产品的日益依靠,正推进线路板商场的快速增长。

镀层测厚仪

商场对通讯设备、电子可穿戴设备、物联网的需求,加之汽车和其他行业对电子产品的日益依靠,正推进线路板商场的快速增长。在进步电子元件的产量和满意更高质量期望的一起,企业正在寻求进步质量的办法。镀层测厚仪


运用合适的剖析仪是此过程的重要环节。X射线荧光光谱(XRF)是一种广泛用于丈量镀层厚度和成分的镀层技术,因为其具有无损、快速和直观的特点。


XRF仪器具有多种形式,其特征决定了仪器对应用的适用性。


特征尺度


要丈量小样品上的镀层,XRF镀层测厚仪运用以下两种办法之一,将X射线管的光束尺度减小到毫米的几分之一(即微米):传统上运用的是机械准直器,具有小孔的金属块放置在光管的前面,只允许与孔对准的X射线穿过并抵达样品。较新的技术运用毛细聚集管光学元件 — 一种由弯曲和锥形小玻璃管阵列组成的聚集光学器材。X射线经反射引导经过管道,类似于光纤技术中的光引导方法。毛细聚集管光学元件与微束X射线管匹配,以搜集更多的X射线管输出,将其聚集到更小的面积,其通量比机械准直系统的通量大几个数量级。


毛细聚集管光学元件通常仅包含一个光斑尺度,旨在丈量非常小的面积。这也可以丈量更大的样品,但或许需要对多个丈量方位的成果进行均匀,或许执行扫描以取得全体样品的代表性成果。具有多个机械准直器的仪器可供给更大的灵活性,因为可以针对要丈量的样品对准直器形状和尺度进行优化。而且,运用大型准直器可以更快速地剖析更大的面积。


因为电子电路和电子元件不断变得更小、更复杂,所以外表处理需要在更小的特征上进行电镀。尽管您今天或许不需要毛细聚集管光学元件,但这或许是一个不错的挑选,使您的购买永不过期。


应用的复杂性


在任何XRF仪器中,X射线源被用来激起样品中元素的发射荧光。在发射荧光中,每个元素都会释放出一系列具有特征能量的X射线。运用能量色散型XRF仪器,探测器可一起检测到被X射线管激起的所有元素的荧光。探测器是以下两种类型之一:封气正比计数器或固态半导体。最常见的固态检测器称为PIN二极管或硅漂移探测器(SDD)。


这些探测器之间的关键差异之一是分辨率 — 或许清楚地区别具有相似能量的元素的才能。当样品中存在镍和铜时,比如ENIG或ENEPIG样品,正比计数器不能彻底解析镍和铜的峰值。该仪器依靠于数学峰形拟合或运用了附件硬件的次序剖析,附件硬件将添加丈量时刻。固态探测器可以彻底解析这些峰值,一起丈量两个元素以进行更快速的剖析。两种探测器均或许满意IPC -4552A和IPC – 4556标准。关于元素易于分辨的外表处理(例如浸银、浸锡或HASL),固态探测器的分辨率无任何优势。


除样品中存在的元素之外,还要考虑镀层厚度和光束尺度。固态探测器具有优势。SSD在丈量非常薄的涂层方面具有优势,因为这些探测器的背景噪声往往低于正比计数器。假如电镀小于〜2μin(0.05μm),则值得考虑运用固态探测器。可是,当运用机械准直器丈量非常小的面积时,因为较大的有用面积,比例计数器可以供给更好的精度和丈量时刻。


功用


XRF镀层仪器具有多种形状和尺度,甚至包括用于丈量较大产品和总成部件的手持式仪器。您的决定将受到三个考虑因素的影响:样品室规划、样品台和先进的可用性特征。


样品室大小和仪器占用空间可根据线路板尺度进行挑选。小型线路板可以放入任何尺度样品室;但较大的线路板运用更大的样品台和更大的样品室则更方便。有些样品室彻底关闭,这样可以避免在剖析过程中线路板意外移动。其他样品室开槽,这样便于样品装载。开槽样品室中的底座或样品台足够大,可支撑线路板,使其不会弯曲,从而避免影响成果。


样品台可为固定或电动型,并且可编程。固定样品台足以对易于定位检测面积的电路板上一个或几个方位进行点检。用户可以运用固定样品台手动定位样品,可是关于具有复杂规划和极小特征的电路板,在电动样品台上的处理效果会更好,这种样品台可供给更好的准确度来进行微调。程控样品台还可以在样品的不同方位进行一系列丈量,从而运用户可执行其他使命。


除XRF仪器中常见的特征之外,还有一些高档特征可以进步工作效率并使仪器更易于操作。其中之一是广角相机。除用于准确定位样品进行剖析的窄视角外,一些仪器还供给了更宽的角度来显现更多的样品。这使得从一个方位移动到另一个方位变得更容易、更快速,并确保正在丈量正确的方位。另一个特征是模式识别,其指示软件检查样品图画,并准确定位准确的预界说丈量方位。这为用户节省了很多的设置时刻。

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相关标签:电镀膜厚仪,镀层涂层测厚仪,涂层测厚仪

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