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镀层测厚仪的特点及测量性能

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镀层测厚仪的特点及测量性能

发布日期:2019-09-20 作者:镀层测厚仪 点击:

日立&牛津 的测量和分析仪器广泛应用于各个领域,可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们通过专业的咨询服务为客户提供佳的解决方案,即从第一次接触开始,不断沟通,直至达到定制化服务的理念。这些紧密合作与我们的创新驱动力不断结合,为形成新的测量解决方案奠定了坚实的基础

X-Strata920的特点: 
测量范围为钛同时测量5层镀层(含基材镀层),15种元素共存校正; 
进行非接触、非破坏的能量色散X射线荧光(EDXRF)分析,进行无损测量; 
Ti22---铀U92间各元素; 
1.测量时间短,测量时间约10秒,快速得出测量结果; 
2.测量结果报告可直接打印、输出到PDF、Excel文档; 
3.报告可包含:数据、被测样品点图片、各种统计报表、客户信息; 
4.系统安全有:X射线警示灯、X射线锁、红色急停开关、样品室开闭门传感器、光闸传感器、使用者和管理员分级密码管理等; 
5.贵重金属分析和金纯度检查(即Au karat评价); 
6.操作简便,一键定焦,有效避免人为操作误差; 
7.提供NIST认证的标准片; 
8.享有全球的服务与支持。

测量性能:

测厚范围:取决于具体的应用。 
测量精度: 
1.膜厚≤20μin时,测量误差值为:第一层(最上层)±1μin,第二层±2μin,第二层±3μin 
2.膜厚>20μin时,测量误差值为:第一层(最上层)±5%,第二层±10%,第二层±15%

 

 


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