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新品FT150镀层测厚仪

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新品FT150镀层测厚仪

发布日期:2019-03-12 作者:镀层测厚仪 点击:

    FT150镀层测厚仪使用新开发的X射线聚光用多毛细管的产品阵容诞生了。另外,以X射线检测结构为中心,对各类元件进行最佳优化,从而大幅度提高了检测灵敏度,在不损失检测精度的前提下实现了高处理能力。并且对设备进行了重新设计,使得样本室的使用以及对检测点的检查变得更为容易。

   镀层测厚仪基本参数:

型号:FT150(标准型)FT150h(高能量型)FT150L(大型线路板对应)
测量元素:原子序数13(Al)~92(U)
X射线源:管电压:45 kV   
        FT150:Mo靶 FT150h:W靶 FT150L:Mo靶
检测器:Si半导体检测器(SDD)(无需液氮)
X射线聚光:聚光导管方式
样品观察:CCD摄像头(100万像素)
对焦:激光对焦、自动对焦
最大样品尺寸:FT150:400(W)×300(D)×100(H)mm
                        FT150h:400(W)×300(D)×100(H)mm 
                        FT150L:600(W)×600(D)×20(H) mm
工作台行程:FT150:400(W)×300(D)
                   FT150h:mm400(W)×300(D)
                    FT150L:mm300(W)×300(D) mm
操作系统:电脑、22英寸液晶显示屏
测量软件:薄膜FP法(最多5层膜、10元素)、检量线法、定性分析
数据处理:Microsoft Excel、Microsoft Word 安装
安全功能:样品门联锁
消耗电量:300 VA以下

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