镀层测厚仪特性含量检测

发布日期：2020-08-31 作者：admin 点击：

　　镀层测厚仪的特性：若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K轨道，一个K轨道上的电子已事先被游离，另一个电子即代替他的地位，此称之为K辐射。不同的能阶转换出不同的能量，如Kα辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射，而Kβ辐射是电子从M轨道跳至K轨道的一种辐射，其间是有区别的。若X-射线荧光是一个电子跳入L的空轨域，此种辐射称为L辐射。同样的L辐射可划分为Lα辐射，此是由M轨道之电子跳入L轨道及Lβ辐射，此是由N轨道之电子跳入L轨道中。由于Kβ辐射能量约为Kα的11%，而Lβ辐射能量较Lα大约20%，所以以能量的观点Lα及Lβ是很容易区分的。

　镀层测厚仪应用领域

　　黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

　　金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定。

　镀层测厚仪主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

　镀层测厚仪精度控制：

　　第一层：±5%以内

　　第二层：±8%以内

　　第三层：±12%以内