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X荧光测厚仪综合性能分析测试

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X荧光测厚仪综合性能分析测试

发布日期:2020-07-29 作者:admin 点击:

X荧光测厚仪综合性能分析测试


  

  X荧光测厚仪可测元素范围:钛(Ti)–铀(U)原子序22–92

  

  准直器:固定种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型1×0.4mm

  

  自动种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型0.05×0.4mm

  

  电脑系统:DELL品牌电脑,17寸液晶显示器,惠普彩色打印机

  

  综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能

  

  X荧光测厚仪性能特点

  

  满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

  

  φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

  

  高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

  

  采用高度定位激光,可自动定位测试高度

  

  定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐

  

  鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

  

  高分辨率探头使分析结果更加精准

  

  良好的射线屏蔽作用

  

  测试口高度敏感性传感器保护

 


本文网址:http://www.precise-sz.com/news/336.html

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